Kelvin probe force microscopy DE

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• Kelvin_probe_force_microscopy.svg: Inkwina
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Shortlink:

https://dewiki.de/b/346c57

Quelle:

Wikimedia Commons

Größe:

860 x 470 Pixel (63237 Bytes)

Beschreibung:

Beim Raster-Kelvin-Mikroskop wird ein leitfähiger Cantilever (Hebelarm/Ausleger) über in konstanter Höhe über eine Oberfläche bewegt. Gleichzeitig wird ein Summenpotenzial aus eine Gleich- (DC) und eine Wechselspannung (AC) angelegt. Bei der Wechselspannung handelte es sich um eine Sinusförmiges Signal, deren Frequenz der nahe der mechanischen Resonanzfrequenz des Cantilevers entspricht. Der Cantilever wird durch elektrostatische Kräfte zum Schwingen angeregt, wo die Gleichspannung zwischen der Oberfläche und dem Cantilever ungleich Null ist. Mit einem Vier-Quadranten-Detektor und einem Analog-Digital-Wandler (A/D) wird die Bewegung des Cantilver bestimmt und das DC-Signal über einen Regelkreis an das Oberflächenpotenzial angepasst. Auf diese Weise soll die Cantileverbewegung minimiert und die Bestimmung der Verteilung der Austrittsarbeit über die Oberfläche ermöglicht werden.

Lizenz:

CC BY-SA 3.0

Credit:

• Kelvin_probe_force_microscopy.svg

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