Wafer prober service configuration
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Quelle:
Größe:
1500 x 1165 Pixel (700422 Bytes)
Beschreibung:
An Electroglas 4090μ+ semiconductor wafer prober in service configuration, with test head, probe card, cover panels and other accessories removed. Internal parts are shown; the linear motor and platen, chuck and stage and material handling elements are shown.
Lizenz:
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