Segger J-Link EDU

(c) SEGGER Microcontroller GmbH & Co. KG, CC BY-SA 3.0

Autor/Urheber:
SEGGER Microcontroller GmbH & Co
Größe:
1290 x 1408 Pixel (118070 Bytes)
Beschreibung:
Segger J-Link EDU. JTAG/SWD debug probe for ARM microcontrollers with USB interface to host. (website)
Lizenz:
Bild teilen:
Facebook   Twitter   Pinterest   WhatsApp   Telegram   E-Mail
Weitere Informationen zur Lizenz des Bildes finden Sie hier. Letzte Aktualisierung: Sat, 20 Jan 2024 06:27:58 GMT

Relevante Bilder


Relevante Artikel

Joint Test Action Group

Joint Test Action Group ist ein häufig verwendetes Synonym für den IEEE-Standard 1149.1, der eine Methodik für das Testen und Debuggen integrierter Schaltungen, also Hardware auf Leiterplatten, beschreibt. Das prominenteste und gleichzeitig zuerst in der JTAG-Arbeitsgruppe implementierte Verfahren ist der Boundary Scan Test nach IEEE 1149.1. Durch Hinzufügen weiterer Verfahren (1149.1–1149.8) sind die Begriffe nicht mehr synonym, während die Beschreibungssprache von der IEEE-Arbeitsgruppe mit Boundary Scan Description Language den ursprünglichen Namen beibehielt. .. weiterlesen