LMIS 02
Autor/Urheber:
Attribution:
Das Bild ist mit 'Attribution Required' markiert, aber es wurden keine Informationen über die Attribution bereitgestellt. Vermutlich wurde bei Verwendung des MediaWiki-Templates für die CC-BY Lizenzen der Parameter für die Attribution weggelassen. Autoren und Urheber finden für die korrekte Verwendung der Templates hier ein Beispiel.
Shortlink:
Quelle:
Größe:
2368 x 1806 Pixel (1496603 Bytes)
Beschreibung:
verbrauchte, leere Flüssigmetall-Ionen-Quelle
Lizenz:
Relevante Bilder
Relevante Artikel
Focused Ion BeamEin Focused Ion Beam ist ein Mittel zur Oberflächenanalyse und -bearbeitung. Steht der Materialabtrag im Vordergrund, heißt das Verfahren auch Ionendünnung. Wenn die Abtastung der Oberfläche des zu untersuchenden Objekts durch den Ionenstrahl primär als bildgebendes Verfahren eingesetzt wird, dann spricht man auch von einem Focused-Ion-Beam-Mikroskop. .. weiterlesen