JTAG Register

Autor/Urheber:

Rudolph H 17:34, 25. Jul. 2009 (CEST)

Shortlink:

https://dewiki.de/b/30f73c

Quelle:

Wikimedia Commons

Größe:

1559 x 1417 Pixel (18212 Bytes)

Beschreibung:

Diagramm eines JTAG Test Access Ports mit den üblicherweise vorhandenen Datenregistern. Der TAP-Controller ist in de:File:JTAG TAP Controller State Diagram.svg näher beschrieben.

Lizenz:

Copyrighted free use

Bild teilen:

         

Weitere Informationen zur Lizenz des Bildes finden Sie hier. Letzte Aktualisierung: Sat, 20 Jan 2024 06:27:52 GMT

Relevante Bilder

(c) SEGGER Microcontroller GmbH & Co. KG, CC BY-SA 3.0

Relevante Artikel

Joint Test Action Group ist ein häufig verwendetes Synonym für den IEEE-Standard 1149.1, der eine Methodik für das Testen und Debuggen integrierter Schaltungen, also Hardware auf Leiterplatten, beschreibt. Das prominenteste und gleichzeitig zuerst in der JTAG-Arbeitsgruppe implementierte Verfahren ist der Boundary Scan Test nach IEEE 1149.1. Durch Hinzufügen weiterer Verfahren (1149.1–1149.8) sind die Begriffe nicht mehr synonym, während die Beschreibungssprache von der IEEE-Arbeitsgruppe mit Boundary Scan Description Language den ursprünglichen Namen beibehielt. .. weiterlesen