Röntgendiffraktometer
Ein Röntgendiffraktometer (auch abgekürzt als XRD für x-ray diffractionmeter; von Diffraktion, lat. für Beugung) ist ein Gerät zur Untersuchung der Struktur von kristallinen Phasen in Werkstoffen.[1] In der Probe tritt Röntgenbeugung auf, die Beugungswinkel und -Intensitäten werden vermessen.
Je nach dem zu untersuchenden Material werden folgende Methoden unterschieden:
- Einkristalldiffraktometer zur Bestimmung der Kristallstruktur
- Röntgengoniometer vermessen die Textur eines Kristalls in drei Dimensionen.[2]
- Pulverdiffraktometer zur Identifizierung kristalliner Substanzen und zur Quantifizierung von Gemischen
- Kleinwinkeldiffraktometer (SAXS, englisch small angle x-ray scattering) zur Untersuchung von langreichweitiger Ordnung in Materialien, z. B., Mikrophasen, smektischen Strukturen in Flüssigkristallen, gefüllten Systemen
- Röntgendiffraktometrie unter streifendem Einfall zur Strukturuntersuchung dünner Schichten.
Einzelnachweise
- ↑ Günter Gottstein: Materialwissenschaft und Werkstofftechnik Physikalische Grundlagen. 4., neu bearb. Auflage. Berlin/Heidelberg 2014, ISBN 978-3-642-36603-1, S. 54.
- ↑ K. Weissenberg: Ein neues Röntgengoniometer. In: Zeitschrift für Physik. Band 23, Nr. 1, Dezember 1924, ISSN 1434-6001, S. 229–238, doi:10.1007/BF01327586.
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Autor/Urheber: Kaspar Kallip, Lizenz: CC BY-SA 4.0
X-Ray crystallography is a tool used for identifying the atomic and molecular structure of a crystal. The movement of the machine during 80 second scan can give different view on how relatively slow scientific measurements can look frozen in time by shutter speed of 90 seconds.
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X-Ray crystallography is a tool used for identifying the atomic and molecular structure of a crystal. The movement of the machine during 80 second scan can give different view on how relatively slow scientific measurements can look frozen in time by shutter speed of 90 seconds.