Parzentrizität

Die Parzentrizität (englisch parcentricity) ist eine Eigenschaft eines bilderzeugenden optischen Systems, zum Beispiel einer Kamera oder eines Lichtmikroskops. Bei einem perfekt parzentrischen System bleibt der Mittelpunkt des Bildes bei einer Änderung am System weiterhin in der Bildmitte, er wandert also nicht seitlich. Entsprechende Änderungen am System können beispielsweise das Drehen des Objektivs, fokussieren oder der Wechsel des Objektivs bei einem Lichtmikroskop sein.[1][2][3]

Die Abweichung von einer perfekten Parzentrizität kann beispielsweise bei Objektivrevolvern für Lichtmikroskope in der Form „Parzentrizität ±40 µm“ als Qualitätsmerkmal angegeben werden.[4]

Parzentrizität findet eine Entsprechung in der Parfokalität. Bei einem perfekt parfokalen Lichtmikroskop wird von allen Objektiven die exakt gleiche Ebene des Präparats scharf dargestellt, ohne dass bei einem Objektivwechsel die Schärfe nachkorrigiert werden muss.[2]

Parzentrizität und Parfokalität sind zwei Qualitätsmerkmale der Kompensation in optischen Geräten mit hoher Auflösung. Sie sind maßgebliche Kriterien in der ingenieurtechnischen Weiterentwicklung der Präzision optischer Systeme und daher wesentliche Kriterien für das juristische Merkmal des erfinderischen Innovationssprunges (nicht bloß Stand der Technik (Patentrecht)) um patentwürdig zu sein. Aus diesem Grund sind diese Merkmale in vielen Patentschriften von Optikfirmen oder Forschungsinstitutionen aufgeführt, um die Leistungsfähigkeit der Entwicklung zu charakterisieren.[5][6]

Einzelnachweise

  1. R. Marimuthu: Microscopy and Microtechnique. Weitgehend unveränd. Neuaufl. Auflage. MJP Publishers, Chennai, Indien 2017, ISBN 978-81-8094-035-4, S. 87 (Bei Google Books).
  2. a b Parcentric/parfocal calibration. mbfbioscience.com-Internetportal, o. J. (undatiert), Website abgerufen am 30. Mai 2021.
  3. Jan Hinsch: Design trends in modern laboratory microscopes. In: Laboratory medicine: official publication of the American Society for Clinical Pathology. Band 28, Nr. 11, November 1997, ISSN 0007-5027, S. 709–712 (online pdf version).
  4. Microscope Objective Turrets. Thorlabs, abgerufen am 31. Mai 2021.
  5. Patent DE102008014030B4: Verfahren zum Kalibrieren eines Bühne-Kamera-Systems sowie Bühne-Kamera-System und Mikroskop mit derartigem Bühne-Kamera-System. Angemeldet am 12. März 2008, veröffentlicht am 26. Januar 2017, Anmelder: Faunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V., Erfinder: Dirk Steckhan et al.
  6. Patentanmeldung DE102009054703A1: Kalibrierverfahren für ein Mikroskop und Mikroskop mit einer Kalibriereinheit. Angemeldet am 15. Dezember 2009, veröffentlicht am 16. Juni 2011, Anmelder: Carl Zeiss Imaging Solutions GmbH, Erfinder: Helmut Zöphel.